B. Michel
"Falschlichtanalyse"
CiS Workshop zur Modellierung in der Mikrosystemtechnik, Erfurt, 26.09.2023
OptecNet Jahrestagung, Fürstenfeldbruck,
25-26. April 2023
"Falschlichtanalyse: Ursachen, Analyse, Reduktion" (07/2020)
"Erweiterung der Funktionalität von Raytracern" (12/2014)
"Optimierung von Lichtleitern" (11/2013)